28.03.2018: Q-DAS Statistikforum: Anspruchsvolle Themen weckten großes Interesse

Am 22. März 2018 fand das erste Q-DAS Statistikforum statt. Die ausgebuchte Veranstaltung unterscheidet sich von den bekannten Infotagen, da hier ein breites Spektrum an Fachthemen mit anspruchsvollen Inhalten behandelt wird. Externe und interne Referenten und ausgewiesen Experten gaben sich die Klinke in die Hand und lieferten den Besuchern wertvolle Erkenntnisse.

In Anlehnung an die industrielle Praxis, begann die Veranstaltung mit dem Entwicklungsprozess und dem Weg von den Anforderungen bis hin zum Design des Systems. Anschließend folgte ein Überblick über den historischen Wandel technischer Zeichnungen und die Kenngrößen und Angaben laut aktuellem Stand der Normen.

Gunter Effenberger erläutert Grundlagen aus dem GPS Konzept

Einen Einblick in die Entstehung von DIN und ISO Normen gab anschließend Q-DAS Gründer Edgar Dietrich und stellte die Bedeutung derartiger Normen in den Mittelpunkt.

Q-DAS Gründer Edgar Dietrich zum Stand aktueller ISO Normen über statistische Verfahren

Insgesamt drei Vorträge beschäftigen sich mit dem Thema der Messunsicherheit. Was mit einem breiten Fragenspektrum zur Messunsicherheit und Prüfprozesseignung vor dem Hintergrund angewandter Normen und Grundprinzipien begann, wurde mit Versuchen zur Messsystemanalyse basierend auf einem Innendurchmesser fortgesetzt und fand seinen Abschluss in der modellbasierten Unsicherheitsbestimmung beim Messen auf einer Werkzeugmaschine, präsentiert von Dr.-Ing. Dipl.-Wirt.-Ing. Martin Peterek vom WZL der RWTH Aachen.

Herr Stern vom Hersteller für Allgemeinbeleuchtung LEDVANCE demonstrierte im Anschluss die Veränderungen, die Six Sigma in der Vergangenheit durchlaufen hat und dessen Einsatz in seinem Unternehmen.

Was in aller Munde ist, durfte auch beim Statistikforum nicht fehlen: Besucher wurden in die magischen sieben Dimensionen von Big Data eingeführt sowie die Stolperfallen, die dieses Schlagworte insbesondere im Hinblick auf die Datenqualität bereithält.

Abschließend erfolgte anhand von Praxisbeispielen die Demonstration, wie die statistische Prozesslenkung (SPC) auch für kleine Stückzahlen möglich ist.